1
Le requérant peut présenter une demande pour solliciter soit la remise ou l’envoi de spécimens ou d’échantillons à des fins d’examen, soit l’inspection des produits semi-conducteurs.
2
Au lieu de spécimens ou d’échantillons, l’OFDF peut aussi remettre au requérant des photographies des produits semi-conducteurs retenus si elles lui permettent d’effectuer cet examen.
3
Le requérant peut présenter cette demande à l’OFDF en même temps que la demande d’intervention ou, pendant que les produits semi-conducteurs sont retenus, directement à l’autorité compétente.